Electron Beam Testing Technology
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- Artikel-Nr.: 10371827
Beschreibung
Background to Electron Beam Testing; W.C. Nixon. Introduction; J.T.L. Thong. Principles and Applications; J.T.L. Thong. Essential Electron Optics; A.R. Dinnis. Electron Beam Interaction with Specimen; K. Ura. Electron Spectrometers and Voltage Measurements; L. Dubbeldam. High Speed Techniques; J.T.L. Thong. Picosecond Photoemission Probing; H. Beha, R. Clauberg. Signal and Image Processing; F.M. Boland, E.R. Lynch. System Integration; M. Battù, et al. Practical Considerations in Electron Beam Testing; T.J. Aton. Industrial Case Studies; D.W. Ranasinghe, et al. Index.
Eigenschaften
Breite: | 178 |
Höhe: | 254 |
Seiten: | 462 |
Sprachen: | Englisch |
Autor: | John T.L. Thong |
Bewertung
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