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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents


Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
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  • 10196747


Beschreibung

The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.

Eigenschaften

Gewicht: 538 g
Seiten: 282
Sprachen: Englisch
Autor: Andrew J. Fisher, Werner Hofer

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