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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell


Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell
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  • 10475003


Beschreibung

Introduction.- Part I: Application of Ellipsometry Technique.- Analysis of Optical and Recombination Losses in Solar Cells.- Optical Simulation of External Quantum Efficiency Spectra.- Characterization of Textured Structures.- On-line Monitoring of Photovoltaics Production.- Real Time Measurement, Monitoring, and Control of CuIn1 xGaxSe2 by Spectroscopic Ellipsometry.- Real Time and Mapping Spectroscopic Ellipsometry of Hydrogenated Amorphous and Nanocrystalline Si Solar Cells.- Part II: Optical Data of Solar-Cell Component Materials.- Inorganic Semiconductors and Passivation Layers.- Organic Semiconductors.- Organic-Inorganic Hybrid Perovskites.- Transparent Conductive Oxides.- Metals.- Substrates and Coating Layers.

Eigenschaften

Breite: 160
Gewicht: 1094 g
Höhe: 242
Länge: 40
Seiten: 616
Sprachen: Englisch
Autor: Hiroyuki Fujiwara, Robert W. Collins

Bewertung

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