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Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests

153.15 CHF

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Artikel-Nr.: 10197133

Beschreibung

Introduction to path delay and transition delay fault models and test methods.- At-speed test challenges for nanometer technology designs.- Low-cost tester friendly design-for-test techniques.- Improving test quality of current at-speed test methods.- Functionally untestable fault list generation and avoidance.- Timing-based ATPG for screening small delay faults.- Faster-than-at-speed test considering IR-drop effects.- IR-drop tolerant at-speed test pattern generation and application.

Eigenschaften

Gewicht:	622 g
Seiten:	281
Sprachen:	Englisch
Autor:	Nisar Ahmed

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