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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

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Artikel-Nr.: 10292334

Beschreibung

Preface. 1. Introduction. 2. Defect-Oriented Testing. 3. Macro Test: A Framework for Testable IC Design. 4. Examples of Leaf-Macro Test Techniques. 5. Scan Chain Routing with Minimal Test Application Time. 6. Test Control Block Concepts. 7. Exploiting Parallelism in Leaf-Macro Access. 8. Timing Aspects of CMOS VLSI Circuits. List of Symbols and Abbreviations. References. Index.

Eigenschaften

Breite:	160
Gewicht:	499 g
Höhe:	240
Seiten:	212
Sprachen:	Englisch
Autor:	A. P. Thijssen, F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts

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