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Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design


Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design
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  • 10317986


Beschreibung

(detailed, two-level toc available, with authors designated and 285 pages targeted)
Introduction.-Physical and mathematical fundamentals.-Examination of process parameter variations.-Methods of parameter variations.-Consequences for circuit design and case studies.-Conclusion.-Appendices.

Eigenschaften

Breite: 155
Gewicht: 542 g
Höhe: 235
Seiten: 252
Sprachen: Englisch
Autor: Joachim Haase, Manfred Dietrich

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