Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
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- Artikel-Nr.: 10332292
Beschreibung
Preface. Acknowledgements. 1. Overview and Historical Evolution. 2. The Art of Specimen Preparation. 3. Field Ion Microscopy. 4. Instrumentation. 5. Experimental Factors. 6. Data Representations and Analysis. Bibliography. Appendices.
Eigenschaften
| Breite: | 178 |
| Gewicht: | 623 g |
| Höhe: | 246 |
| Länge: | 19 |
| Seiten: | 239 |
| Sprachen: | Englisch |
| Autor: | Michael K. Miller |
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