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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

168.16 CHF

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Artikel-Nr.: 10334768

Beschreibung

Foreword. Preface. 1. Introduction. 2. Test Application Schemes for Testing Delay Defects. 3. Delay Fault Models. 4. Case Studies on Delay Testing. 5. Path Delay Fault Classification. 6. Delay Fault Simulation. 7. Test Generation for Path Delay Faults. 8. Design for Delay Fault Testability. 9. Synthesis for Delay Fault Testability. 10. Conclusions and Future Work. References. Index.

Eigenschaften

Breite:	155
Gewicht:	476 g
Höhe:	235
Seiten:	191
Sprachen:	Englisch
Autor:	Angela Krstic, Kwang-Ting Cheng

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