Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
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- Artikel-Nr.: 10398633
Beschreibung
1. Introduction2. Analog IC Sizing Background3. Yield Estimation Techniques Related Work4. Monte Carlo-Based Yield Estimation New Methodology5. AIDA-C Variation-Aware Circuit Synthesis Tool6. Tests & Results7. Conclusion and Future WorkIndex
Eigenschaften
Breite: | 155 |
Gewicht: | 409 g |
Höhe: | 235 |
Seiten: | 237 |
Sprachen: | Englisch |
Autor: | António Manuel Lourenço Canelas, Jorge Manuel Correia Guilherme, Nuno Cavaco Gomes Horta |
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