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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies


Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
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Beschreibung

1. Introduction2. Analog IC Sizing Background3. Yield Estimation Techniques Related Work4. Monte Carlo-Based Yield Estimation New Methodology5. AIDA-C Variation-Aware Circuit Synthesis Tool6. Tests & Results7. Conclusion and Future WorkIndex

Eigenschaften

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