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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

149.15 CHF

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Artikel-Nr.: 10419157

Beschreibung

Introduction.- Test Structure Basics.- Resistors.- Capacitors.- MOSFETs.- Ring Oscillators.- High Speed Characterization.- Test Structures of SOI Technology.- Test Equipment and Measurements.- Data Analysis.

Eigenschaften

Breite:	155
Gewicht:	623 g
Höhe:	235
Länge:	21
Seiten:	373
Sprachen:	Englisch
Autor:	Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

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