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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

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Artikel-Nr.: 10467102

Beschreibung

An Introduction to Microscopy.- Electron Optics.- The Transmission Electron Microscope.- TEM Specimens and Images.- The Scanning Electron Microscope.- Analytical Electron Microscopy.- Special Topics.- Appendix: Mathematical Derivations.

Eigenschaften

Breite:	158
Gewicht:	340 g
Höhe:	234
Länge:	10
Seiten:	196
Sprachen:	Englisch
Autor:	R. F. Egerton

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