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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum


Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum
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  • 10380272


Beschreibung

Physics of Digital Image Formation.- Analytic Framework for Landmark Location Uncertainty.- Model-based Landmark Location Estimators.- Two-dimensional Noncollocated Numerical Integration.- Computational Tools.- Experimental Validation.- Studies of Landmark Location Uncertainty.- Conclusions.

Eigenschaften

Breite: 156
Höhe: 235
Länge: 9
Seiten: 162
Sprachen: Englisch
Autor: Brian S.R. Armstrong, José A. Gutierrez

Bewertung

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