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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSP

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Artikel-Nr.: 10450092

Beschreibung

Dimensionality reduction.- Manifold learning and embedding methods.-Dissimilarity representations.- Graph-theoretic methods.- Model selection, classification and clustering.- Semi and fully supervised learning methods.- Shape analysis.- Spatio-temporal pattern recognition.- Structural matching.- Text and document analysis.

Eigenschaften

Breite:	156
Gewicht:	902 g
Höhe:	32
Länge:	239
Seiten:	588
Sprachen:	Englisch
Autor:	Antonio Robles-Kelly, Battista Biggio, Francisco Escolano, Marco Loog, Richard Wilson

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